allPIXA evo 32k Line scan 相機透過創新雙 16k 感測線與即時演算法,生成高達 32k 的卓越影像,特別適用於半導體、PCB 與 AOI 等次像素級缺陷檢測應用。
以2-Line Pixel Shift技術,並利用相機內FPGA的即時硬體驗算法,取得超高解析度的次像素32K影像。