DIC微分干涉

系統原理

應用範圍

• 廣泛應用於異方性導電膠膜（ACF Anisotropic Conductive Film）的相關製程後之檢測，包括：
  ACF for LCD FOG ( Film on Glass)
  ACF for LCD FOB ( FPC on PCB )
  ACF for LCD COG ( Chip on Glass)

• 利用DIC（微分干涉）的光學特性，透過光波的偏振干涉方式，用以加強影像對比，以識別表面形貌的細微變化，尤其是低對比度甚至透明的物體，上述導電粒子於壓合後，利用DIC可在影像上呈現明暗立體的效果，再以軟體判斷並計算出粒子的形狀、大小、數量與面積…等資訊。